日本napson熱電動勢接觸式PN探測器
產(chǎn)品名稱:PN-12α
樣品的導(dǎo)電類型(PN)通過將其與筆型探頭(熱/冷探頭集成型)接觸來確定
兼容單晶硅晶片,塊和錠
*對于難以使用集成探頭判斷的樣品,您還可以選擇熱/冷探頭/分離類型。
測量對象
與半導(dǎo)體/太陽能電池材料有關(guān)(硅,多晶硅,SiC等)
測量尺寸
30x30mm以上
測量范圍
可用于PN測定的樣品電阻率范圍:1 m至20kΩ·cm
*不能部分確定多晶硅,帶有膜的晶片以及表面呈鏡面狀態(tài)或被氧化的樣品
產(chǎn)品名稱:PN-12α
樣品的導(dǎo)電類型(PN)通過將其與筆型探頭(熱/冷探頭集成型)接觸來確定
兼容單晶硅晶片,塊和錠
*對于難以使用集成探頭判斷的樣品,您還可以選擇熱/冷探頭/分離類型。
測量對象
與半導(dǎo)體/太陽能電池材料有關(guān)(硅,多晶硅,SiC等)
測量尺寸
30x30mm以上
測量范圍
可用于PN測定的樣品電阻率范圍:1 m至20kΩ·cm
*不能部分確定多晶硅,帶有膜的晶片以及表面呈鏡面狀態(tài)或被氧化的樣品
日本napson熱電動勢接觸式PN探測器
深圳市秋山貿(mào)易有限公司版權(quán)所有 地址:深圳市龍崗區(qū)龍崗街道新生社區(qū)新旺路和健云谷2棟B座1002